ASTM F77-69(1996)
电子器件和半导体应用陶瓷表观密度的测试方法（2001 年撤回）
Test Method for Apparent Density of Ceramics for Electron Device and Semiconductor Application (Withdrawn 2001)
- 标准号
- ASTM F77-69(1996)
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F77-69(1996)
- 引用标准
- ASTM E29
- 适用范围
- 1.1 本测试方法涵盖电子器件和半导体应用中使用的最大尺寸为 25 毫米（1 英寸）且孔隙率为零或不连续的陶瓷部件表观密度的测定。
1.2 以 SI 单位表示的数值应被视为标准。括号中的值仅供参考。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全和健康实践，并在使用前确定适用性或监管限制。
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