ISO/TS 22292:2021
纳米技术.用透射电子显微镜重建棒支撑纳米物体的三维图像

Nanotechnologies — 3D image reconstruction of rod-supported nano-objects using transmission electron microscopy


ISO/TS 22292:2021 中,可能用到以下仪器设备

 

大面积电制冷能谱仪

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牛津仪器(上海)有限公司

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

HF-3300场发射透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

冷场发射球差校正透射电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

软X射线分光谱仪

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蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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Apollo 300 扫描电镜

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Andor科研级相机

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TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

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泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

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泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

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超大样品室钨灯丝扫描电镜VEGA 3 XMU/XMH

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TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

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泰思肯集成矿物分析仪 TIMA-X(GM)

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TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统

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GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)

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TESCAN综合矿物分析仪 TIMA-X(LM)

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TESCAN MAIA3 model 2016 (XM)超高分辨场发射扫描电镜

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ISO/TS 22292:2021

标准号
ISO/TS 22292:2021
发布
2021年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO/TS 22292:2021
 
 

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