ISO/TS 22292:2021
纳米技术.用透射电子显微镜重建棒支撑纳米物体的三维图像

Nanotechnologies — 3D image reconstruction of rod-supported nano-objects using transmission electron microscopy


标准号
ISO/TS 22292:2021
发布
2021年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO/TS 22292:2021
 
 

ISO/TS 22292:2021相似标准


推荐

Science:纳米结构3D矢量成像来了!

Mathieu Kociak等人在扫描透射电子显微镜中使用高度单色电子束,本征模来描述SPhPs响应,并将SPhP信号作为束位置、能量损失和倾斜角函数,对断层物体声子表面电磁场进行层析成像,将纳米MgO立方体不断变化SPhP信号可视化,得到其三维矢量图像。...

透射电镜市场概况和主要品牌

应用市场二维图像无法显示三维结构和纳米物体功能之间关系。对理解物体结构和功能之间关系需求与日俱增,推动了对三维结构分析技术需求,如中子能谱、电子显微镜成像和X射线衍射。透射电子显微镜广泛应用于物理和生物科学结构分析,包括三维物体到二维图像投影。未来五年,对先进材料和生物样品三维分析需求不断增长将推动对透射电子显微镜需求。...

超薄切片技术介绍

在切片过程中,样本块面(切割切片处)始终保持在一个平直表面上,可供SEM进行研究。当截面在阵列中成像时,就可以重建样本三维图像。这种方法称为阵列断层扫描(AT)。超薄切片技术及其在AT中应用概述如下。超薄切片技术超薄切片技术主要用作透射电子显微镜(TEM)样本制备方法。它允许样本内部结构以纳米级分辨率进行可视化和分析。它以快速、干净方式制作超薄样本切片。...

纳米表面声子首次实现三维成像

结果,氧化镁纳米立方体表面声子产生红外光场首次在三维空间实现了可视化。这使研究人员得以对高场强下产生某些声子与环境强相互作用进行图像处理。  研究人员之一、格拉茨技术大学物理研究所乌尔里希·霍恩斯特将X射线图像和计算机断层成像过程进行了比较。“物体三维重建可由许多合成二维投影创建。”他说,“就像在小提琴或吉他上一样,纳米立方体表面的振动被分解成一系列共振。...


ISO/TS 22292:2021 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号