YS/T 679-2018
非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法

Surface photovoltage method for measuring minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors

YST679-2018, YS679-2018

非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

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YS/T 679-2018 发布历史

YS/T 679-2018由工业和信息化部发布于 2018-10-22，并于 2019-04-01 实施。

YS/T 679-2018 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法，在国际标准分类中归属于: 77.040 金属材料试验。

YS/T 679-2018的历代版本如下：

2018年 YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法
2008年 YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

标准号: YS/T 679-2018
别名: YST679-2018
YS679-2018
发布: 2018年
发布单位: 工业和信息化部
当前最新: YS/T 679-2018

被代替标准: YS/T 679-2008

YS/T 679-2018相似标准

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谁引用了YS/T 679-2018 更多引用

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YS/T 679-2018非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法