YS/T 679-2018
非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法

Surface photovoltage method for measuring minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors

YST679-2018, YS679-2018


 

 

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标准号
YS/T 679-2018
别名
YST679-2018, YS679-2018
发布
2018年
发布单位
工业和信息化部
当前最新
YS/T 679-2018
 
 
被代替标准
YS/T 679-2008

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