IEC 61967-1-2002
Circuits Integres - Mesure Des Emissions Electro-Magnetiques@ 150 kHz a 1 GHz - Partie 1: Conditions Generales Et Definitions (Edition 1.0)

Integrated Circuits - Measurement of Electromagnetic Emissions@ 150 kHz to 1 GHz Part 1: General Conditions and Definitions (Edition 1.0)


 

 

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标准号
IEC 61967-1-2002
发布日期
2002年03月01日
实施日期
2018年12月15日
废止日期
中国标准分类号
/
国际标准分类号
/
发布单位
IEC - International Electrotechnical Commission
引用标准
56
适用范围
This part of IEC 61967 provides general information and definitions on measurement of conducted and radiated electromagnetic disturbances from integrated circuits. It also provides a description of measurement conditions@ test equipment and set-up as well as the test procedures and content of the test reports. A test method comparison table is included as annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s). The object of this standard is to describe general conditions in order to establish a uniform testing environment and obtain a quantitative measure of RF disturbances from integrated circuits (IC). Critical parameters that are expected to influence the test results are described. Deviations from this standard are noted explicitly in the individual test report. The measurement results can be used for comparison or other purposes. Measurement of the voltage and current of conducted RF emissions or radiated RF disturbances@ coming from an integrated circuit under controlled conditions@ yields information about the potential for RF disturbances in an application of the integrated circuit.

IEC 61967-1-2002系列标准

IEC 61967-1 (REDLINE + STANDARD)-2018 IEC 61967-2-2005 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法 IEC 61967-4 AMD 1-2006 修改件1.集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第4部分:1Ω/150Ω直接耦合法 IEC 61967-4 CORR 1-2017 集成电路. 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量. 第4部分: 传导发射测量; 1 Ώ/150 Ώ直接耦合法. 勘误表1 IEC 61967-4 Edition 1.1-2006 集成电路.150kHz~1GHz电磁辐射测量.第4部分:电导辐射测量.1~150Ω直接耦合法 IEC 61967-4-2021 RLV 集成电路电磁发射的测量第4部分:传导发射的测量1欧姆/150欧姆直接耦合法 IEC 61967-4-2002/AMD1-2006 修改件1——集成电路——150 kHz至1 GHz电磁发射的测量——第4部分:传导发射的测量——1&Omega/150&ω;直接耦合法 IEC 61967-5-2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:感应辐射测量.工作台法拉第筒法 IEC 61967-6 AMD 1-2008 集成电路.150kHz~1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法.修改件1 IEC 61967-6 CORR 1-2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法 IEC 61967-6 Corrigendum 1-2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法 IEC 61967-6 Edition 1.1-2008 集成电路.150kHz~1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁探针法 IEC 61967-6-2008 集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法 IEC 61967-6-2002/AMD1-2008 修改件1.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法 IEC 61967-8-2011 集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰

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