KS C 2150-2008(2023)
介电薄膜在高频范围（500 MHz～10 GHz）下的介电常数和介电损耗的测量方法

Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHz∼10 GHz)

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标准号: KS C 2150-2008(2023)
发布: 2008年
发布单位: KR-KS
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