ASTM E1250-10
电子元件应用评估硅电子器件辐射硬度测试中使用的钴-60型辐射器的低能伽马元件的标准测试方法

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices


说明：

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
  • 表示标准的节点，可以拖动；
  • 绿色表示标准：ASTM E1250-10 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
标准号
ASTM E1250-10
发布
2010年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1250-15
当前最新
ASTM E1250-15(2020)
 
 
尽管 Co-60 核仅发射 1.17 和 1.33 MeV 的单能伽马射线，但源的有限厚度以及不可避免地存在于辐照器中的封装材料和其他周围结构可以贡献大量的低能伽马辐射，主要由康普顿散射 (1, 2)。在电子设备的辐射硬度测试中，伽马能谱的这种低能光子成分可能会给被测设备带来显着的剂量测定误差，因为剂量计测量的平衡吸收剂量可能与设备中沉积的吸收剂量有很大不同...

推荐

光子辐射传感器可承受大剂量辐射而完好无损

因此，可以据此认为这类装置能够在工业或医疗辐射水平下可靠地工作，因为这些环境的辐射剂量只是上述数值的几百或几千分之一。”例如，食物辐照的范围从几百到几千个灰色不等，这通常是通过其对丙氨酸颗粒的影响来监测，丙氨酸是一种氨基酸，当暴露于电离辐射时会改变其原子特性。为了确定辐射的影响，NIST研究人员将两种硅光子传感器持续数小时暴露于放射性同位素钴-60产生的伽马辐射。...

谁引用了ASTM E1250-10 更多引用

ASTM E1249-15(2021) 使用Co-60源的硅电子器件的辐射硬度测试中最小化剂量误差的标准实践 ASTM E1854-19 确保电子零件中子诱发位移损伤试验一致性的标准实施规程 ASTM F1892-12(2018) 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南 ASTM F1190-18 中子照射无偏电子元件的标准指南 ASTM E1249-15 使用Co-60源实现硅电子设备辐射硬性试验的剂量测定错误最小化的标准实施规程 ASTM E1854-13 确保电子部件的中子引起的位移损伤试验一致性的标准实施规程 ASTM F1892-12 半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南 ASTM F1190-11 无偏电子元件中子辐照的标准指南 ASTM E1249-10 用钴60源以最大程度上减少硅电子装置辐射强度试验的剂量测定误差的标准操作规程 GB/T 16510-2008 辐射加工剂量学校准实验室的能力要求


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号