ASTM E1250-10
电子元件应用评估硅电子器件辐射硬度测试中使用的钴-60型辐射器的低能伽马元件的标准测试方法

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices


哪些标准引用了ASTM E1250-10

 

ASTM E1249-15(2021) 使用Co-60源的硅电子器件的辐射硬度测试中最小化剂量误差的标准实践ASTM E1854-19 确保电子零件中子诱发位移损伤试验一致性的标准实施规程ASTM F1190-18 中子照射无偏电子元件的标准指南ASTM F1892-12(2018) 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南ASTM E1249-15 使用Co-60源实现硅电子设备辐射硬性试验的剂量测定错误最小化的标准实施规程ASTM E1854-13 确保电子部件的中子引起的位移损伤试验一致性的标准实施规程ASTM F1892-12 半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南ASTM F1190-11 无偏电子元件中子辐照的标准指南ASTM E1249-10 用钴60源以最大程度上减少硅电子装置辐射强度试验的剂量测定误差的标准操作规程GB/T 16510-2008 辐射加工剂量学校准实验室的能力要求ASTM E1400-95ae1 ASTM E1400-95ae1
标准号
ASTM E1250-10
发布
2010年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1250-15
当前最新
ASTM E1250-15(2020)
 
 
尽管 Co-60 核仅发射 1.17 和 1.33 MeV 的单能伽马射线，但源的有限厚度以及不可避免地存在于辐照器中的封装材料和其他周围结构可以贡献大量的低能伽马辐射，主要由康普顿散射 (1, 2)。在电子设备的辐射硬度测试中，伽马能谱的这种低能光子成分可能会给被测设备带来显着的剂量测定误差，因为剂量计测量的平衡吸收剂量可能与设备中沉积的吸收剂量有很大不同...

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谁引用了ASTM E1250-10 更多引用

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