ASTM F980-92
硅半导体器件中子诱发位移损伤的快速退火测量指南

Guide for The Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

被代替

ASTM F980-92 发布历史

ASTM F980-92由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1992-01-01。

ASTM F980-92在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

ASTM F980-92 硅半导体器件中子诱发位移损伤的快速退火测量指南的最新版本是哪一版？

最新版本是 ASTM F980-16(2024) 。

ASTM F980-92的历代版本如下：

• 2024年 ASTM F980-16(2024) 硅半导体器件中中子引起的位移损伤的快速退火测量的标准指南
• 2016年 ASTM F980-16 硅半导体器件中子诱发位移损伤快速退火的标准指南
• 2010年 ASTM F980-10e1 测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火的标准指南
• 2010年 ASTM F980-10 测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南
• 1992年 ASTM F980-92 硅半导体器件中子诱发位移损伤的快速退火测量指南

标准号

ASTM F980-92

发布

1992年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F980-10

当前最新

ASTM F980-16(2024)

 

 

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