T/CSPSTC 25-2019
硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID)
T/CSPSTC 25-2019 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- T/CSPSTC 25-2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 中国团体标准
- 当前最新
- T/CSPSTC 25-2019
- 主要内容包括范围、术语和定义、装置、抽样、程序、计算、试验报告。 在硅基薄膜光伏组件在光照影响下的功率稳定过程中，每个大致相等的辐照周期前后测试最大功率值，最小辐照周期为43kwh/m2，按照IEC 61215-2 MQT 19的规定组件达到稳定后（IEC 61215-1-3：2016中规定（PMAX-PMIN）/P...
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