T/CSPSTC 25-2019
硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法

Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID)


标准号
T/CSPSTC 25-2019
发布
2019年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/CSPSTC 25-2019
 
 
适用范围
主要内容包括范围、术语和定义、装置、抽样、程序、计算、试验报告。 在硅基薄膜光伏组件在光照影响下的功率稳定过程中,每个大致相等的辐照周期前后测试最大功率值,最小辐照周期为43kwh/m2,按照IEC 61215-2 MQT 19的规定组件达到稳定后(IEC 61215-1-3:2016中规定(PMAX-PMIN)/PAVE≤2%),持续光照,功率仍旧出现持续下降的趋势。本标准给出以下方程式作为判定组件光致衰减是否达到最终稳定的准则:此处,Pmax、Pmin和Paverage为连续两个周期中测得的三个STC下最大功率的最大值、最小值和平均值。

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