电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分:劣化机理 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
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三、失效分析机理 电子元器件失效的机理也有不同分类,通常以其导致原因作为分类依据,主要可分为下面几种失效机理: (1)表层劣化:元器件钠离子遭污染然后造成沟道出现漏电、γ辐射有损、表面蠕变或击穿等; (2)设计问题造成的劣化:电子元器件的电路、版图以及结构等方面出现的设计问题; (3)内部劣化:是指由CMOS 闭锁效应、二次击穿、重金属玷污、中子辐射损伤以及材料问题所引发的瞬间功率过载、结构性能退化等...
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