IEC 62433-2:2017
EMC IC 建模 第2部分：用于 EMI 行为仿真的集成电路模型 传导发射建模 (ICEM-CE)（2.0 版）
EMC IC modelling – Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation – Conducted emissions modelling (ICEM-CE) (Edition 2.0)
- 标准号
- IEC 62433-2:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- IEC - International Electrotechnical Commission
- 当前最新
- IEC 62433-2:2017
- 适用范围
- IEC 62433 的这一部分指定了集成电路 (IC) 的宏观模型，用于模拟印刷电路板上的传导电磁发射。该模型通常称为集成电路发射模型？C 传导发射 (ICEM-CE)。ICEM-CE 宏模型还可用于对 IC 芯片、功能块和知识产权 (IP) 块进行建模。 CE 宏观模型可用于对数字和模拟 IC 进行建模 基本上@传导发射有两个来源：通过电源端子的传导发射和通过输入/输出 (I/O) 端子的接地参考结构的传导发射 ICEM-CE 宏观模型以单一方法解决这两种类型的起源 该标准定义了 EMI 仿真宏模型的结构和组件，同时考虑了 IC 的内部活动 IEC 62433 的这一部分有两个主要部分，第一个是电气描述ICEM-CE 宏模型元素以及信息的具体要求第二部分提出了一种基于 XML 的通用数据交换格式，称为 CEML。这种格式允许以更可用和通用的形式对 ICEM-CE 进行编码，以模拟传导发射
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