ISO/CD 17297
微束分析“聚焦离子束在 TEM 样品制备中的应用”词汇

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary


ISO/CD 17297 中,可能用到以下仪器设备

 

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

HF-3300场发射透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

冷场发射球差校正透射电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-1400Plus 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2200FS 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

H-9500透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

ZEISS蔡司LIBRA能量过滤式透射电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Tecnai G2 Spirit 120kV透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Tecnai G2 20 200kV透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

Talos F200系列透射电镜F200S/F200X

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JEM-1000 超高压透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2800 高通量透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-F200冷场发射透射电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

EM-05500TGP TEM断层扫描系统

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日立200kV球差校正透射电镜HF5000

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

日本电子JEM-1400Flash 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JED-2300T 能谱仪

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日本电子株式会社(JEOL)

 

Talos L120C 透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Titan Krios G3i 300kV冷冻透射电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Glacios Cryo-TEM冷冻透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Titan Themis TEM透射电镜

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Metrios TEM透射电镜半导体工业

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

赛默飞世尔Spectra S/TEM扫描透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Themis透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Talos 透射电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Titan Krios G2冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

ORIONTM氦离子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

JSM-2200FS能量过滤场发射透射电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

TransferMan NK 2 显微操作仪

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艾本德中国有限公司(Eppendorf)

 

FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

ZEISS蔡司LIBRA能量过滤式透射电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ORIONTM氦离子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

标准号
ISO/CD 17297
发布
1980年
发布单位
国际标准化组织
 
 

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ISO/CD 17297 中可能用到的仪器设备





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