ASTM E2534-20
金属和非金属零件用扫频正弦输入过程补偿共振试验进行目标缺陷检测的标准实施规程
Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts
- 标准号
- ASTM E2534-20
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E2534-20
- 引用标准
- ASTM E1316 ASTM E2001 ASTM E3081 ASTM E3213
- 1.1 本实践描述了通过扫描正弦输入方法对金属或非金属零件使用过程补偿共振测试（PCRT）的一般程序，以将测试样品的共振模式与已知可接受和目标缺陷样品的参考教学集进行比较。共振模式差异可用于区分具有正常工艺变化的可接受零件与具有目标材料状态和会导致性能缺陷的缺陷的零件。这些材料状态和缺陷包括但不限于裂纹、空隙、孔隙率、收缩、夹杂物、不连续性、晶粒和晶体结构差...