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目前，多采用数学校正、基体分离等手段以克服这些缺点。在上世纪70年代，出现了将全反射现象应用于XRF分析的技术，即将少量样品置于平滑的全反射面上进行检测，称为全反射X射线荧光(TXRF)。如下图：图3 TXRF结构示意图由上图可以看出，EDXRF中X射线的出入射角度通常约为40度，分析深度通常发生在近表层100μm左右，有较强的背景及基体影响；TXRF为EDXRF的变种，其入射角度...
本文研究了X射线荧光光谱法直接测定燃料油中铝、硅、钒、硫含量，成功地将X射线荧光光谱分析技术应用于燃料油多元素分析，避免了传统法灰化过程中，由于燃烧不完全等原因造成分析元素的损失，解决了传统法操作步骤繁多，分析时间长，准确度低等问题，拓宽了X射线荧光光谱分析技术在国内的应用领域，为液体燃料元素分析引入了一种新的快速检测技术。...
内容简介：本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书系统介绍了X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量、波长色散与能量色散光谱仪、基体效应、光谱背景和谱线重叠、样品制备、定性与半定量分析、实验校正法、数学校正法定量分析、薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数，相关数据等，供读者参考使用。...
同时，X射线荧光光谱仪也是现代矿物成分快速分析的重要分析仪器。在X射线荧光光谱分析多金属样品时样品中元素之间存在基体效应使得待测的目标元素的品位与所测得的荧光强度值一般并不成线性关系，这就需要对样品元素间基体效应引起的误差进行校正，使得其测量的结果更加准确。一般地，X-RayFluorescence（XRF）分析必须具有标准样品。...
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