GB/T 38532-2020由国家质检总局 CN-GB 发布于 2020-03-06,并于 2021-02-01 00:00:00.0 实施。
GB/T 38532-2020 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 38532-2020 。
* 在 GB/T 38532-2020 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。 注1:使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2:该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。 注3:对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。
EBSD采集的硬件部分通常包括一台灵敏的CCD摄像仪和一套用来花样平均化和扣除背底的图象处理系统。图1是EBSD系统的构成及工作原理。 在扫描电子显微镜中得到一张电子背散射衍射花样的基本操作是简单的。相对于入射电子束,样品被高角度倾斜,以便背散射(即衍射)的信号EBSP被充分强化到能被荧光屏接收(在显微镜样品室内),荧光屏与一个CCD相机相连,EBSP能直接或经放大储存图象后在荧光屏上观察到。...
EBSD主要可做单晶体的物相分析,同时提供花样质量、置信度指数、彩色晶粒图,可做单晶体的空间位向测定、两颗单晶体之间夹角的测定、可做特选取向图、共格晶界图、特殊晶界图,同时提供不同晶界类型的绝对数量和相对比例,即多晶粒夹角的统计分析、晶粒取向的统计分析以及它们的彩色图和直方统计图,还可做晶粒尺寸分布图,将多颗单晶的空间取向投影到极图或反极图上可做二维织构分析,也可做三维织构即ODF分析。...
目前,可以利用粉末衍射卡片进行直接比对,也可以计算机数据库直接进行检索。 XRD 粒度分析 纳米材料的晶粒尺寸大小直接影响到材料的性能。XRD可以很方便地提供纳米材料晶粒度的数据。测定的原理基于样品衍射线的宽度和材料晶粒大小有关这一现象。当晶粒小于100nm 时,其衍射峰随晶粒尺寸的变大而宽化。当晶粒大于100nm时,宽化效应则不明显。...
测定的原理基于样品衍射线的宽度和材料晶粒大小有关这一现象。当晶粒小于100 nm 时,其衍射峰随晶粒尺寸的变大而宽化。当晶粒大于100 nm 时,宽化效应则不明显。 ...
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