ASTM E1622-94(1999)e1
波长色散 X 射线光谱法中谱线重叠校正的标准实践（2006 年撤回）
Standard Practice for Correction of Spectral Line Overlap in Wavelength-Dispersive X-Ray Spectrometry (Withdrawn 2006)
ASTM E1622-94(1999)e1 发布历史
ASTM E1622-94(1999)e1由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2017-08-16。
ASTM E1622-94(1999)e1 发布之时，引用了标准
- ASTM E135 金属、矿石及相关材料的分析化学的有关标准术语
- ASTM E1361 X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
ASTM E1622-94(1999)e1的历代版本如下：
- 2017年 ASTM E1622-94(1999)e1 波长色散 X 射线光谱法中谱线重叠校正的标准实践（2006 年撤回）
1.1 给出了波长色散 X 射线光谱法中金属和非金属样品分析中遇到的线重叠干扰的校正程序。
1.2 当另一种元素的谱线与分析物谱线的波长相同或接近时，就会发生光谱干扰。一条或多条干扰线可以来自与分析物线相同的光谱级，或者可以来自另一光谱级。当使用脉冲高度鉴别时，通常会消除来自高阶线的线重叠干扰。
1.3 本实践中给出的程序适用于对样品中伴随物产生的干扰进行校正。来自 X 射线管和相关仪器组件的干扰线通常是系统特有的，处理这些干扰的程序可以在其他地方找到。这是由 EP Bertin 处理的。
1.4 如果无法测量干扰元素的谱线，则这种做法通常不适用于同步 X 射线光谱仪。然而，如果干扰元素的浓度已知并且可以输入到分析程序中，则可以进行校正。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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