ISO 16129:2018
表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ISO 16129:2018 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ISO 16129:2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 16129:2018
- 本文件旨在允许用户定期评估 X 射线光电子能谱仪的几个关键参数。 它并非旨在提供详尽的性能检查，而是提供一组可以经常进行的快速测试。 本文件涵盖的仪器行为方面包括真空、导电或非导电测试样本的光谱测量以及 X 射线源的当前状态。 仪器性能的其他重要方面（例如横向分辨率）不属于本文件的范围。 该文件旨在与配备单色 Al Kα X 射线源或非单色 Al 或 Mg ...
推荐
2020年度中国标准创新贡献奖公布 多项与仪器分析标准相关
GB/T 29732—2013《表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准》；4. GB/T 29557—2013《表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量》；5. GB/T 28894—2012《表面化学分析 分析前样品的处理》；6. GB/T 19500—2004《X—射线光电子能谱分析方法通则》；7. GB/T 25184—2010《X射线光电子能谱仪检定方法》；8....
X射线光电子能谱分析的定义及原理
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。...