ISO 16129:2018由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2018-11-15。
ISO 16129:2018在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
本文件旨在允许用户定期评估 X 射线光电子能谱仪的几个关键参数。 它并非旨在提供详尽的性能检查,而是提供一组可以经常进行的快速测试。 本文件涵盖的仪器行为方面包括真空、导电或非导电测试样本的光谱测量以及 X 射线源的当前状态。 仪器性能的其他重要方面(例如横向分辨率)不属于本文件的范围。 该文件旨在与配备单色 Al Kα X 射线源或非单色 Al 或 Mg Kα X 射线源的商用 X 射线光电子能谱仪一起使用。
GB/T 29732—2013《表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准》;4. GB/T 29557—2013《表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量》;5. GB/T 28894—2012《表面化学分析 分析前样品的处理》;6. GB/T 19500—2004《X—射线光电子能谱分析方法通则》;7. GB/T 25184—2010《X射线光电子能谱仪检定方法》;8....
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析,包括价态。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号