IEC 60444-2-1980
用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

IEC 60444-2-1980 发布历史

Describes a method suitable for measurement in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5 %. This method is based on the phase measurement at the resonance frequency and in its vicinity. The value of the motiona

IEC 60444-2-1980由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1980。

IEC 60444-2-1980 在中国标准分类中归属于: L21 石英晶体、压电元件，在国际标准分类中归属于: 31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件。

IEC 60444-2-1980的历代版本如下：

• 1980  IEC 60444-2-1980 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法

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标准号

IEC 60444-2-1980

发布日期

1980

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L21

国际标准分类号

31.140

发布单位

IX-IEC

适用范围

Describes a method suitable for measurement in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5 %. This method is based on the phase measurement at the resonance frequency and in its vicinity. The value of the motiona

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