ASTM E1250-15(2020)
电子元件应用评估硅电子器件辐射硬度测试中使用的钴-60型辐射器的低能伽马元件的标准测试方法
Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
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- 标准号
- ASTM E1250-15(2020)
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E1250-15(2020)
- 引用标准
- ASTM E1249 ASTM E170 ASTM E668
- 1.1 Co-60辐照器光子能谱中的低能成分导致硅电子器件辐射硬度测试中吸收剂量增强效应。这些低能量成分可能会导致确定特定被测设备吸收剂量时出现错误。该方法涵盖使用专门的电离室来确定此类效应的相对重要性的品质因数的程序。它还提供了组装该室的设计和说明。 1.2 本方法适用于 Co-60 辐射场中的测量，暴露速率范围为 7 × 10 -6 至 3 × 10−2...
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