CSN ISO 3274:1994
用轮廓法测量表面厚度的仪器.轮廓顺序转换的接触(触针)式仪器.接触式轮廓仪,系统M

Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method.Contact(stylus)instruments of consecutive profile transformation.Contact profile meters,system M


CSN ISO 3274:1994 中,可能用到以下仪器设备

 

便携式接触角测量仪

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北京中仪科信科技有限公司

 

JC2000P2便携式接触角测量仪

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北京中仪科信科技有限公司

 

Messmer Büchel 68-76 PGX+便携式接触角测试仪

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广州领拓仪器科技有限公司

 

 布鲁克3D光学轮廓仪

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Profilm 3D光学轮廓仪

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优尼康科技有限公司

 

光电轮廓仪

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上海荆和分析仪器有限公司

 

探针式轮廓仪系统Dektak XTL

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布鲁克衍射荧光事业部(AXS)

 

单纤维轮廓仪

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北京中仪科信科技有限公司

 

DektakXT探针式表面轮廓仪

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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

 

NPFLEX 3D 三维表面测量系统 光学轮廓仪

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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

 

非接触三维光学轮廓仪

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誉荣电子科技有限公司

 

ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

 

探针三维轮廓仪

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誉荣电子科技有限公司

 

基恩士LJ-V7000系列超高速轮廓测量仪

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基恩士(中国)有限公司

 

基恩士 3D轮廓测量仪 VR-6000系列

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基恩士(中国)有限公司

 

轮廓投影仪系列TESA SCOPE 300V

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海克斯康/HEXAGON

 

布鲁克ContourX-500光学轮廓仪

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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

 

三维表面形貌仪

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孚光精仪(中国)有限公司

 

双模式三维形貌仪

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誉荣电子科技有限公司

 

2D/3D 线激光测量仪  LJ-X8000 系列

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基恩士(中国)有限公司

 

德国BMT SMS专家级测量系统(共聚焦原理)

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上海昊扩科技发展有限公司

 

碳纤维影像测量系统

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海克斯康/HEXAGON

 

三维台阶仪

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孚光精仪(中国)有限公司

 

德国BMT AF200自聚焦测头系统

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上海昊扩科技发展有限公司

 

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是德科技(中国)有限公司KEYSIGHT

 

标准号
CSN ISO 3274:1994
发布
1994年
发布单位
CZ-CSN
替代标准
CSN EN ISO 3274:1999
当前最新
CSN EN ISO 3274:1999
 
 
处理器:VELNOR, s.r.o.,布尔诺,I?O:44016174,Lubomír Vel?ovsk?,Ing。 Eva Vele?íková 技术标准化委员会:TNK 10 几何表面特性计量 捷克标准化研究所员工:Ing.米罗斯拉夫·波斯皮尔

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