它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度,还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。...
它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度,还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。 ...
相比之下,集流体(CCs)方法取得了较好的表现,传统铜箔被纳米结构化的材料代替。之后为了避免纳米结构铜的缺点,开发了碳涂覆的铜箔,这些碳涂层都贡献了更好的电化学性能,这与其优异的导电性、高比表面积和合适的孔径/体积比具有密切的关系。与纳米结构或碳涂层铜箔相比,自支撑碳膜本身可直接作为CCs,能够避免有机粘合剂或碳脱落产生的导电性所带来的不利影响。...
X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。...
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