GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法
Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
GBT4937-1995, GB4937-1995
2007-02
GB/T 4937-1995 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 4937-1995
- 别名
- GBT4937-1995
GB4937-1995 - 发布
- 1995年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- 当前最新
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- 本标准列出了适用于半导体器件（分立器件和集成电路）的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。 注：非空腔器件是指器件结构中封装材料与管芯的所有暴露表面紧密接触且没有任何空间的器件。 本标准已尽可能考虑了IEC 68《基本环境试验规程》。
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