JIS K 0132:1997
扫描电子显微镜总则

General rules for scanning electron microscopy


JIS K 0132:1997 中,可能用到以下仪器设备

 

安捷伦5500LS原子力显微镜

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安捷伦科技(中国)有限公司

 

Anton Paar原子力显微镜

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安东帕(上海)商贸有限公司

 

牛津仪器快速扫描电容显微镜(SCM)

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牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Cypher ES 高分子版原子力显微镜

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牛津仪器(上海)有限公司

 

Cypher S原子力显微镜

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牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D Origin原子力显微镜

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牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D-BIO™原子力显微镜

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牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D Infinity原子力显微镜

MFP-3D Infinity原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D Origin+ 原子力显微镜

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牛津仪器(上海)有限公司

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

日本电子JSM-IT300HR 扫描电子显微镜

日本电子JSM-IT300HR 扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜 SEM3200

国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜 SEM3200

北京国仪精测技术有限公司

 

国仪量子扫描电子显微镜SEM3000标准型

国仪量子扫描电子显微镜SEM3000标准型

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜 SEM3200

国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜 SEM3200

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

FEI Inspect S50 扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JSM-7610F 热场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

Prisma E SEM扫描电子显微镜

Prisma E SEM扫描电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

FEI “Quanta系列”环境扫描电子显微镜

FEI “Quanta系列”环境扫描电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SEM5000X

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SEM5000X

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

SEM3100扫描电子显微镜

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

JCM-7000系列NeoScope 台式扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

SEM3000S 扫描电子显微镜

SEM3000S 扫描电子显微镜

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Inspect F50 场发射扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

日本电子JIB-4500聚焦离子束扫描电镜

日本电子JIB-4500聚焦离子束扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-IT500 InTouchScope扫描电镜

日本电子JSM-IT500 InTouchScope扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-IT100 InTouchScope扫描电镜

日本电子JSM-IT100 InTouchScope扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN S9000X 超高分辨型氙离子源双束扫描电镜

TESCAN S9000X 超高分辨型氙离子源双束扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

国仪量子 钨灯丝扫描电镜 SEM2000

国仪量子 钨灯丝扫描电镜 SEM2000

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

TESCAN S9000G 超高分辨型镓离子源型双束扫描电镜

TESCAN S9000G 超高分辨型镓离子源型双束扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

国仪量子场发射扫描电镜SEM5000

国仪量子场发射扫描电镜SEM5000

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

TESCAN S8000X 高分辨氙离子源双束扫描电镜

TESCAN S8000X 高分辨氙离子源双束扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

标准号
JIS K 0132:1997
发布
1997年
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS K 0132:1997
 
 
この規格は,走査電子顕微鏡を用いて,主として二 次電子による試料表面の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定する。

JIS K 0132:1997相似标准


JIS K 0132:1997 中可能用到的仪器设备





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