BS EN 60749:1999
半导体装置.机械和气候试验方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

被代替

2006-12

半导体装置.机械和气候试验方法 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

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标准号: BS EN 60749:1999
发布: 1999年
发布单位: 英国标准学会
替代标准: BS EN 60749-12:2002; BS EN 60749-4:2002; BS EN 60749-6:2002; BS EN 60749-10:2002; BS EN 60749-13:2002; BS EN 60749-3:2002; BS EN 60749-2:2002; BS EN 60749-9:2002; BS EN 60749-11:2002; BS EN 60749-18:2003; BS EN 60749-31:2003; BS EN 60749-22:2003; BS EN 60749-1:2003; BS EN 60749-8:2003; BS EN 60749-16:2003; BS EN 60749-36:2003; BS EN 60749-17:2003; BS EN 60749-5:2003; BS EN 60749-25:2003; BS EN 60749-14:2003; BS EN 60749-29:2004; BS EN 60749-39:2006; BS EN 60749-27:2006+A1:2012
当前最新: BS EN IEC 60749-12:2018; BS EN 60749-4:2002; BS EN 60749-6:2002; BS EN 60749-10:2002; BS EN IEC 60749-13:2018; BS EN 60749-3:2002; BS EN 60749-2:2002; BS EN 60749-9:2002; BS EN 60749-11:2002; BS EN 60749-18:2003; BS EN 60749-31:2003; BS EN 60749-22:2003; BS EN 60749-1:2003; BS EN 60749-8:2003; BS EN 60749-16:2003; BS EN 60749-36:2003; BS EN 60749-17:2003; BS EN 60749-5:2017; BS EN 60749-25:2003; BS EN 60749-14:2003; BS EN 60749-29:2004; BS EN 60749-39:2006; BS EN 60749-27:2006+A1:2012

被代替标准: BS 6493-3:1986

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