BS EN 60749:1999
半导体装置.机械和气候试验方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

被代替

BS EN 60749:1999 发布历史

BS EN 60749:1999由英国标准学会 GB-BSI 发布于 1999-04-15，并于 1999-04-15 实施，于 2003-06-20 废止。

BS EN 60749:1999 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

BS EN 60749:1999的历代版本如下：

• 2018年 BS EN IEC 60749-12:2018 半导体器件.机械和气候试验方法.振动,可变频率
• 2002年 BS EN 60749-12:2002 半导体装置.机械和气候试验方法.变频率振动
• 1999年 BS EN 60749:1999 半导体装置.机械和气候试验方法
• 0000年 BS 6493-3:1986

统一的首选测试方法和应力水平值，用于判断半导体器件（分立电路和集成电路）的环境特性，并从中进行选择。

标准号

BS EN 60749:1999

发布

1999年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-12:2002

BS EN 60749-4:2002

BS EN 60749-6:2002

BS EN 60749-10:2002

BS EN 60749-13:2002

BS EN 60749-3:2002

BS EN 60749-2:2002

BS EN 60749-9:2002

BS EN 60749-11:2002

BS EN 60749-18:2003

BS EN 60749-31:2003

BS EN 60749-22:2003

BS EN 60749-1:2003

BS EN 60749-8:2003

BS EN 60749-16:2003

BS EN 60749-36:2003

BS EN 60749-17:2003

BS EN 60749-5:2003

BS EN 60749-25:2003

BS EN 60749-14:2003

BS EN 60749-29:2004

BS EN 60749-39:2006

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

当前最新

BS EN IEC 60749-12:2018

BS EN 60749-4:2002

BS EN 60749-6:2002

BS EN 60749-10:2002

BS EN IEC 60749-13:2018

BS EN 60749-3:2002

BS EN 60749-2:2002

BS EN 60749-9:2002

BS EN 60749-11:2002

BS EN 60749-18:2003

BS EN 60749-31:2003

BS EN 60749-22:2003

BS EN 60749-1:2003

BS EN 60749-8:2003

BS EN 60749-16:2003

BS EN 60749-36:2003

BS EN 60749-17:2003

BS EN 60749-5:2017

BS EN 60749-25:2003

BS EN 60749-14:2003

BS EN 60749-29:2004

BS EN 60749-39:2006

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

 

 

被代替标准

BS 6493-3:1986

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