IEC 60749/AMD1:2000
半导体器件 机械和气候试验方法 修改1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1

2002-04

哪些标准引用了IEC 60749/AMD1:2000

 

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标准号
IEC 60749/AMD1:2000
发布
2000年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749/AMD2:2001
当前最新
IEC 60749:2002
 
 
被代替标准
IEC 47/1477/FDIS:2000

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