从不同的角度来观察描述X射线,可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪,缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪,可缩写为WDXRF或WDX,但市面上用的较多的为EDX。WDX用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如分光晶体和探测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,并以此进行定性和定量分析。...
于是两种元素的成分比可写成:利用量子力学方法可以计算元素的散射截面,通常 EELS 定量分析的软件都给出了各种元素散射截面的理论计算方法,可以用来进行成分定量分析。如图 6 所示为用 EELS 软件自动分析同时含有氧( ZO=8)、 钡( ZBa=56) 及铜( ZCu=29)元素的样品。从能量坐标可以判定出元素种类, 通过计算可以得到氧、钡、铜的相对含量。...
于是两种元素的成分比可写成:利用量子力学方法可以计算元素的散射截面,通常 EELS 定量分析的软件都给出了各种元素散射截面的理论计算方法,可以用来进行成分定量分析。如图 6 所示为用 EELS 软件自动分析同时含有氧( Z O =8)、 钡( ZBa=56) 及铜( ZCu=29)元素的样品。从能量坐标可以判定出元素种类, 通过计算可以得到氧、钡、铜的相对含量。...
而要对样品进行微区的元素的成分分析,则需借助于被激发的特征X射线。这就是通常所谓的“电子探针分析”,又通常把测定特征X射线波长的方法叫波长色散法(WDS);测定特征X射线能量的方法叫能量色散法(EDS)。扫描电子显微镜除了可运用于宝玉石的表面形貌外,它经常带能谱(EDS)做成分分析。EDS主要是由高效率的锂漂移硅半导体探测器、放大器、多道脉冲高度分析器和记录系统组成。...
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