GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits


GB/T 12750-2006 中,可能用到以下仪器设备

 

格瑞德曼SD12.5槽式分样仪

格瑞德曼SD12.5槽式分样仪

北京绿绵科技有限公司

 

格瑞德曼RSD200分样仪

格瑞德曼RSD200分样仪

北京绿绵科技有限公司

 

GB/T 12750-2006



标准号
GB/T 12750-2006
发布日期
2006年08月23日
实施日期
2007年02月01日
废止日期
中国标准分类号
L56
发布单位
国家质检总局
被代替标准
GB/T 12750-1991
适用范围
本分规范适用于已封装的半导体集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路。

GB/T 12750-2006系列标准


GB/T 12750-2006 中可能用到的仪器设备





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