IEC 61967-1:2002
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions

被代替

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标准号

IEC 61967-1:2002

发布

2002年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 61967-1:2018 RLV

当前最新

IEC 61967-1:2018 RLV

 

 

被代替标准

IEC 47A/632/FDIS:2001

适用范围

IEC 61967 的这一部分提供了有关集成电路传导和辐射电磁骚扰测量的一般信息和定义。它还提供了测量条件、测试设备和设置以及测试程序和测试报告内容的描述。附件 A 中包含测试方法比较表，以帮助选择适当的测量方法。该标准的目的是描述一般条件，以便建立统一的测试环境并获得集成电路 (IC) 射频干扰的定量测量结果。描述了预计会影响测试结果的关键参数。与此标准的偏差在单独的测试报告中明确注明。测量结果可用于比较或其他目的。对来自受控条件下的集成电路的传导RF发射或辐射RF干扰的电压和电流的测量产生关于集成电路应用中RF干扰的可能性的信息。

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