IEC 60749-4:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

被代替

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标准号

IEC 60749-4:2002

发布

2002年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-4:2002/COR1:2003

当前最新

IEC 60749-4:2017

 

 

被代替标准

IEC 47/1532A/CDV:2000 IEC 47/1602/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62177:2000

适用范围

This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

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