This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
IEC 60749-4-2002由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2002-04。
IEC 60749-4-2002 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验 由 IEC 60749-1996 变更而来。
IEC 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验 由 IEC 60749 AMD 1-2000 变更而来。
IEC 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验 由 IEC 60749 AMD 2-2001 变更而来。
IEC 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验 由 IEC 60749 Edition 2.2-2002 变更而来。
IEC 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验 由 IEC/PAS 62177-2000 变更而来。
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