SAE J1752-2-2003
集成电路的辐射发射测量表面扫描法（环路探针法）10 MHz 至 3 GHz
Measurement of Radiated Emissions from Integrated CircuitsSurface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz
SAE J1752-2-2003 发布历史
SAE J1752-2-2003由美国机动车工程师协会 US-SAE 发布于 2003-01-01。
SAE J1752-2-2003在国际标准分类中归属于: 33.100.10 发射,43.040.10 电气和电子设备。
SAE J1752-2-2003 集成电路的辐射发射测量表面扫描法（环路探针法）10 MHz 至 3 GHz的最新版本是哪一版？
最新版本是 SAE J1752-2-2016 。
SAE J1752-2-2003的历代版本如下：
- 2016年 SAE J1752-2-2016 集成电路的辐射发射测量 表面扫描法（环路探针法）10 MHz 至 3 GHz
- 2011年 SAE J1752-2-2011 采用从10 MHz到3 GHz的集成电路表面扫描方法(回路探测方法)的辐射排放测量
- 2003年 SAE J1752-2-2003 集成电路的辐射发射测量表面扫描法（环路探针法）10 MHz 至 3 GHz
- 1995年 SAE J1752-2-1995 集成电路的电磁兼容性测量程序 集成电路辐射发射诊断程序 1 MHz 至 1000 MHz 磁场 环路探针 推荐做法（1995年3月）
本 SAE 推荐实践定义了一种评估集成电路 (IC) 表面电磁场的近场电场或磁场分量的方法。该技术能够提供 IC 内部 RF 源的详细模式。图案的分辨率由所用探头的特性和机械探头定位器的精度决定。该方法可通过现有的探头技术在 10 MHz 至 3 GHz 频率范围内使用。探针根据编程模式在平行或垂直于 IC 表面的平面上进行机械扫描，数据经过计算机处理，以提供扫描频率下场强的颜色增强表示。此过程适用于安装在扫描探针可触及的任何电路板上的 IC 的测量。为了进行比较，应使用标准化测试板。该诊断程序旨在用于 IC 架构分析，包括功能平面图和配电。
SAE J1752-2-2003相似标准
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