BS EN 62258-6:2006
半导体压模制品.关于热模拟的信息要求

Semiconductor die products - Requirements for information concerning thermal simulation


标准号
BS EN 62258-6:2006
发布
2006年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 62258-6:2006
 
 
引用标准
IEC 62258-1 IEC 62258-2
被代替标准
05/30139923 DC-2005 PD ES 59008-4-3-2000
适用范围
IEC 62258 的这一部分旨在促进半导体芯片产品的生产、供应和使用,包括: • 晶圆; • 分割裸芯片; • 带有连接结构的芯片和晶圆; • 最低限度或部分封装的芯片和晶圆。 IEC 62258 的这一部分确定了促进使用热数据和模型来模拟热行为和验证电子系统正确功能所需的信息,这些电子系统包括裸半导体芯片、带或不带连接结构和/或最小封装半导体芯片。 它旨在帮助芯片器件供应链中的所有参与者遵守 IEC 62258-1 和 IEC 62258-2 的要求。

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