GJB 5814-2006
军用电子器件X射线剂量增强效应测量方法

Testing method of X-ray dose enhancement effect for military electronic devices

GJB 5814-2006 发布历史

本标准规定了军用电子器件 X 射线剂量增强效应的测量方法。 本标准适用于军用电子器件 X 射线剂量增强因子的试验测量，属于损伤性测量方法。本标准只适用稳态辐照，不适用于瞬态辐照。

GJB 5814-2006由国家军用标准-总装备部 CN-GJB-Z 发布于 2006-10-20，并于 2007-01-01 实施。

GJB 5814-2006 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合。

GJB 5814-2006的历代版本如下：

• 2006年10月20日 GJB 5814-2006 军用电子器件X射线剂量增强效应测量方法

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标准号

GJB 5814-2006

发布日期

2006年10月20日

实施日期

2007年01月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L10

发布单位

CN-GJB-Z

引用标准

GJB 762.2 GJB 2165

适用范围

本标准规定了军用电子器件 X 射线剂量增强效应的测量方法。 本标准适用于军用电子器件 X 射线剂量增强因子的试验测量，属于损伤性测量方法。本标准只适用稳态辐照，不适用于瞬态辐照。