,本研究使用X射线偏振成像测量仪观测天鹅座X-1的XRB,电场位置角度与向外的喷流一致,表明喷流受到内部X射线发射区域的驱动。...
d) Cs2ZrCl6@PDMS薄膜的SNR值作为剂量率的函数。检测限可以定义为SNR为3时的值。通过在每个点测量一个样品五次来确定误差线。e) X射线成像系统示意图。f) Cs2ZrCl6@PDMS柔性薄膜在标准分辨率卡上的X射线成像。g)连续X射线照射下的RL稳定性(剂量率:2.52 mGyair s−1,电压:50 kV)。...
通过X射线衍射(XRD)分析证实了SmFeO3粉体和薄膜的相纯度。利用X射线光电子能谱(XPS)研究了元素的化学组成和价态。利用X射线吸收光谱(XAS)研究了SFO样品的电子结构,尤其是样品中的轨道杂化情况。值得注意的是,我们观察到SmFeO3粉体与薄膜之间O K-edge和Fe L-edge的XAS差异。通过磁化实验发现,样品表现出不同的交换偏置效应,这可能与样品轨道杂化和键长的变化有关。...
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