SJ 20954-2006
集成电路锁定试验

Integrated circuits latch-up test

SJ 20954-2006 发布历史

本标准规定了集成电路（IC）的电流锁定和过压锁定的试验方法。 本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法，用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、最小无故障率（NTF）和过电应力失效（EOS）非常重要。 本试验方法适用于NMOS、CMOS、双级以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法下出现锁定时，表明器件电性能失效，与器件特殊结构无关。

SJ 20954-2006由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2006-08-07，并于 2006-12-30 实施。

SJ 20954-2006 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

SJ 20954-2006 发布之时，引用了标准

• GB/T 17574 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路

SJ 20954-2006的历代版本如下：

• 2006年08月07日 SJ 20954-2006 集成电路锁定试验

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 SJ 20954-2006 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

SJ 20954-2006

发布日期

2006年08月07日

实施日期

2006年12月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

发布单位

CN-SJ

引用标准

GB/T 17574

适用范围

本标准规定了集成电路（IC）的电流锁定和过压锁定的试验方法。 本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法，用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、最小无故障率（NTF）和过电应力失效（EOS）非常重要。 本试验方法适用于NMOS、CMOS、双级以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法下出现锁定时，表明器件电性能失效，与器件特殊结构无关。

谁引用了SJ 20954-2006 更多引用