SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
Integrated circuits latch-up test
- 标准号
- SJ 20954-2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ 20954-2006
- 引用标准
- GB/T 17574
- 适用范围
- 本标准规定了集成电路（IC）的电流锁定和过压锁定的试验方法。 本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法，用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、最小无故障率（NTF）和过电应力失效（EOS）非常重要。 本试验方法适用于NMOS、CMOS、双级以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法下出现锁定时，表明器件电性能失效，与器件特殊结构无关。