JEDEC JESD35-2-1996
测定薄电介质的维夫-水平试验（Wafer-Level）测试准则.JESD35的No.2附录

Test Criteria for the Wafer-Level Testing of Thin Dielectrics Addendum No. 2 to JESD35

标准号

JEDEC JESD35-2-1996

发布

1996年

发布单位

(美国)固态技术协会,隶属EIA

 

 

适用范围

本附录详细介绍了确定电压斜坡测试终点的替代方法并扩展了确定电流斜坡测试终点的范围，从而扩展了 JEDEC 标准 35 (JESD35) 的实用性。

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