JEDEC JEB15-1969
双稳半导体微电路测量的术语和方法

Terminology and Methods of Measurement for Bistable Semiconductor Microcircuits

标准号

JEDEC JEB15-1969

发布

1969年

发布单位

(美国)固态技术协会,隶属EIA

 

 

适用范围

This format is intended f o r the registration of semiconductor integrated bistable logic circ-dta including .monolithic, multichip, fihl 0 and hybrid bistable circuits,

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