JEDEC JEB15-1969
双稳半导体微电路测量的术语和方法

Terminology and Methods of Measurement for Bistable Semiconductor Microcircuits

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JEDEC JEB15-1969 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

JEDEC JEB15-1969

发布日期

1969年01月01日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L43

国际标准分类号

31.080.20

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This format is intended f o r the registration of semiconductor integrated bistable logic circ-dta including .monolithic, multichip, fihl 0 and hybrid bistable circuits,