JEDEC JEP128-1996
Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南

Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing

标准号

JEDEC JEP128-1996

发布日期

1996年

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L86

国际标准分类号

31.080

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This guide applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductor wafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures.