JEDEC JEP128-1996
Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南

Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing

JEDEC JEP128-1996 发布历史

This guide applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductor wafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures.

JEDEC JEP128-1996由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 1996。

JEDEC JEP128-1996 在中国标准分类中归属于: L86 通用电子测量仪器设备及系统，在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。

JEDEC JEP128-1996的历代版本如下：

• 1996年 JEDEC JEP128-1996 Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南

标准号

JEDEC JEP128-1996

发布日期

1996年

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L86

国际标准分类号

31.080

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This guide applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductor wafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures.