JEDEC JEP134-1998
顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南

Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis


标准号
JEDEC JEP134-1998
发布
1998年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
当前最新
JEDEC JEP134-1998
 
 
适用范围
本指南致力于获取和传输故障分析师完成准确、及时的半导体器件故障分析所需的相关背景信息。为此,包括建议的背景数据表格及其数据项的解释。

JEDEC JEP134-1998相似标准


JEDEC JEP134-1998 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号