JEDEC JEP134-1998
顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南
Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：JEDEC JEP134-1998 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 适用范围
- This Guideline addresses acquiring and transmitting pertinent background information that a failure analyst should have to complete an accurate and timely failure analysis of a semiconductor device. To this end, a suggested background-data form and explanations of its data items are included.