JEDEC JEP147-2003
使用适量网络分析(VNA)测试输入电容的程序

Procedure for Measuring Input Capacitance Using a Vector Network Analyzer (VNA)


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:JEDEC JEP147-2003 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

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标准号
JEDEC JEP147-2003
发布日期
2003年
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L33
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
适用范围
This procedure is intended for VNA (Vector Network Analyzer) based measurement of pin input capacitance for devices with SSTL (Stub Series Terminated Logic) interface . This procedure does not mandate a specific method for measuring input capacitance. It has only to be considered mandatory if it is explicitly refered to by a component specification in conjunction with a value of an input capacitance defined in such a specification.




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