JEDEC JEP179-2006
组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析

Stress-Test-Driven Qualification of and Failure Mechanisms Associated with Assembled Solid State Surface- Mount Components


标准号
JEDEC JEP179-2006
发布
2006年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
当前最新
JEDEC JEP179-2006
 
 
适用范围
JEDEC 标准 DDR2 SDRAM 必须始终满足 85C tCASE(max) 操作的要求(字节 47,位 4:7 = 0000)。允许可选的更高 tCASE 操作,最高可达 95C(字节 47,位 4:7 = 1010)。如果支持可选的较高 tCASE 限制,则有两个可能支持或不支持的选项来增强较高 tCASE 限制。这两个选项由供应商确定:(1) 需要双刷新,(2) 支持高温 SR。如果指定基本 DRAM,即 tCASE(max) 为 85C,则不需要这两个可选功能(但必须设置为默认零值。)

JEDEC JEP179-2006相似标准





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